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ESD测试
- 产品名称：HanwaESD测试设备_全自动晶圆仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
- 产品价格：面议
- 产品数量：999
- 保质/修期：1
- 保质/修期单位：年
- 更新日期：2021-08-14
产品说明
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
4）HED-N5000 全自动ESD测试系统
可以测试多达1056 pin的器件
占用空间小
适用于ESD测试和latch-up测试，符合新测试标准,
板上可容纳8个插座。
符合标准（JEDEC，ESDA）与Hanwa S5000和Verifire插座板兼容
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5）HED-W5000M 晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
价格适中的多功能手动晶圆级测试仪。
专配软件可用于泄漏测量和判断。
适用于大多数类型的手动探针台。
6）HED-W5100D 全自动晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
高可支持12英寸 300mm晶圆ESD测试方案
测试效率高，自动探针台和晶圆映射程序启用了全自动晶圆级ESD测试
同时支持package测试
配备CCD相机
可以与Hanwa TLP测试仪，HanwaESD测试设备，HED-T5000和T5000VF
Woks 集成在一起，作为不带插座板的高引脚数封装级测试仪。
SCM（10pF浪涌）选项可用。
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
超紧凑型便携式ESD测试机 （HBM，MM，HMM）测试仪
独立的测试系统，携带方便，空间占用率小，性价比好
不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试
适用于现场测试。配有曲线跟-踪-器，用于通过/失败判断，推荐给IC制造商和最终用户。
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2）HED-C5000 CDM测试机
此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备
符合JEDEC、ESDA、JEITA标准
可快速转换不同标准的测试
台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。
配备的CCD摄像机
提供FI-CDM和D-CDM模式。
可以测量每个引脚的电容。
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3）HED-T5000 TLP测试机
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC TLP 测试机
用于获取器件保护电路的相关参数特性
为器件升级提供支持，缩短产品周期
提供普通和VF（非常快）型号。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脉冲宽度。
具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。
可与HED-W5000，ESD（HBM，HanwaESD测试设备，MM）测试仪结合使用现在提供大电流输出型号（T5000-HC）。
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深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳 ，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。
静电放电(ESD: Electrostatic Discharge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(>几千伏)，所以这种损伤是毁灭性的，会造成电路直接烧毁。所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题。
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
易捷测试提供日本Hanwa主要产品包括：ESD测试仪、CDM测试仪、TLP测试仪、静电放电测试仪、静电图像系统。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
2）HED-N5000全自动ESD测试系统
3）HED-C5000 CDM测试机
4）HED-T5000 TLP测试机
5）HED-W5000M晶圆ESD测试机
6）HED-W51000D 全自动晶圆ESD测试机
据悉，这种新型纳米荧光探针afp上转换检测的检测限低至20皮克/毫升，比商用delfia试剂盒灵敏度提升近30倍，是迄今基于稀土纳米探针afp检测最低值。另外，基于eu3+的双模发光特性，该研究团队提出了利用同一纳米探针的溶解增强下转移发光体外检测模式，作为自参照标准评价其上转换体外检测的准确性和可靠性的新思路，实测了肿瘤医院提供的20例癌症患者和正常人的血清afp水平，结果与商用delfia试剂盒一致，并通过多次血清样品检测的变异系数以及回收率测定等验证了该检测方法的特异性、精确度和可靠性。
同样在1996年，HanwaESD测试设备，Tyagi等提出了使用分子信标(moleuclarbeacons)进行qPCR的方法，分子信标是5'与3'端分别标记有荧光报告基团与淬灭基团的寡核苷酸探针，其两端具有互补的高GC序列，在qPCR反应液中呈发夹结构，荧光基团与淬灭基团发生荧光共振能量转移(FRET)而保持静息状态。当PCR反应开始后，茎环结构在变性高温条件下打开，释放荧光;在退火过程中，靶序列特异性探针则与模板杂交保持线性，不能与模板杂交的探针则复性为茎环结构而荧光淬灭，通过检测qPCR体系中退火时的荧光信号强度，便可以real-timePCR原理特异性检测体系中的初始模板浓度。相比于Taqman探针，分子信标使用发卡结构使荧光基团与淬灭基团在空间上紧密结合，大大降低了检测的荧光背景，其检测特异性较Taqman探针更高，更适合等位基因的分型检测。
MLPA技术于2002年由Schouten等[6]首先报道。每个MLPA探针包括2个荧光标记的寡核苷酸片段，1个由化学合成，1个由M13噬菌体衍生法制备;每个探针都包括1段引物序列和1段特异性序列。在MLPA反应中，2个寡核苷酸片段都与靶序列进行杂交，再使用连接酶连接2部分探针。连接反应高度特异，只有当2个探针与靶序列完全杂交，连接酶才能将2段探针连接成1条完整的核酸单链；反之，如果靶序列与探针序列不完全互补，即使只有1个碱基的差别，就会导至杂交不完全，使连接反应无法进行。连接反应完成后，用1对荧光标记的通用引物扩增连接好的探针，每个探针扩增产的长度都是唯一的。最后，通过毛细管电泳分离扩增产物，便可对把核酸序列进行检测。由于巧妙地借鉴了扩增探针的原理，MLPA技术最多可在1次反应中对45个靶序列的拷贝数进行鉴定。
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