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- 公司名称：深圳市易捷测试技术有限公司
- 联系人：张女士
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ESD测试
- 产品名称：ICESD测试失效分析_全自动晶圆仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
- 产品价格：面议
- 产品数量：999
- 保质/修期：1
- 保质/修期单位：年
- 更新日期：2021-08-14
产品说明
深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳 ，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。
静电放电(ESD: Electrostatic Discharge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(>几千伏)，所以这种损伤是毁灭性的，会造成电路直接烧毁。所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题。
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
易捷测试提供日本Hanwa主要产品包括：ESD测试仪、CDM测试仪、TLP测试仪、静电放电测试仪、静电图像系统。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
2）HED-N5000全自动ESD测试系统
3）HED-C5000 CDM测试机
4）HED-T5000 TLP测试机
5）HED-W5000M晶圆ESD测试机
6）HED-W51000D 全自动晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
4）HED-N5000 全自动ESD测试系统
可以测试多达1056 pin的器件
占用空间小
适用于ESD测试和latch-up测试，符合新测试标准,
板上可容纳8个插座。
符合标准（JEDEC，ESDA）与Hanwa S5000和Verifire插座板兼容
5）HED-W5000M 晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
价格适中的多功能手动晶圆级测试仪。
专配软件可用于泄漏测量和判断。
适用于大多数类型的手动探针台。
6）HED-W5100D 全自动晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
高可支持12英寸 300mm晶圆ESD测试方案
测试效率高，自动探针台和晶圆映射程序启用了全自动晶圆级ESD测试
同时支持package测试
配备CCD相机
可以与Hanwa TLP测试仪，HED-T5000和T5000VF
Woks 集成在一起，作为不带插座板的高引脚数封装级测试仪。
SCM（10pF浪涌）选项可用。
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
超紧凑型便携式ESD测试机 （HBM，MM，HMM）测试仪
独立的测试系统，携带方便，空间占用率小，性价比好
不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试
适用于现场测试。配有曲线跟-踪-器，用于通过/失败判断，推荐给IC制造商和最终用户。
全自动探针台设备_探针台测试相关-深圳市易捷测试技术有限公司
2）HED-C5000 CDM测试机
此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备
符合JEDEC、ESDA、JEITA标准
可快速转换不同标准的测试
台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。
配备的CCD摄像机
提供FI-CDM和D-CDM模式。
可以测量每个引脚的电容。
3）HED-T5000 TLP测试机
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC TLP 测试机
用于获取器件保护电路的相关参数特性
为器件升级提供支持，缩短产品周期
提供普通和VF（非常快）型号。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脉冲宽度。
具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。
可与HED-W5000，ESD（HBM，MM）测试仪结合使用现在提供大电流输出型号（T5000-HC）。
广州射频探针台测试_探针台测试相关-深圳市易捷测试技术有限公司
日本名古屋大学研究人员近日成功开发出一种原子级别的纳米电线，ICESD测试失效分析，这种电线由化合物制成，直径只有毛发的大约万分之一。据介绍，研究小组将完全去除了不纯物质的直径约2纳米的碳纳米管与一种叫氯化铒的化合物一起放入真空的耐热容器，并在700摄氏度的高温条件下连续加热7天。7天后，纳米管中的氯化铒完全融化，形成了一根由氯原子与铒原子构成的直径约为1.8纳米的纳米电线。据介绍，以往人们制造纳米电线时，使用的方法是用超细的探针将原子逐个地排列起来，而如果使用新的方法，制造过程将大大简化。此外，如果改变纳米电线中化合物的成分，还可以制造出能够改变导电性和磁铁磁性强弱的电线。研究人员称，目前半导体的配线主要使用铜线，而如果换用这种纳米电线可以大幅度减少配线的体积，因此有可能被使用作为高速低电的下一代半导体的配线。此外，这种纳米电线的研制在人们研究纳米级别的物质性质等基础研究方面也将发挥推动作用。
基于这一关键医学问题，华东理工大学贺晓鹏副研究员、豆伟涛博士研究生与东方肝胆外科医院王红阳院士团队的潘宇飞博士、董立巍博士等通过跨学科的“医工结合”协作模式开展紧密合作，通过简易的超分子组装策略，构建了一种荧光多肽配体与二维硫化钼复合的探针材料，并应用这一探针复合材料的荧光“关开”性质揭示了CD47在肝癌和胆管癌细胞中过度表达。更为重要的是，研究团队还应用此类二维探针材料实现了对确诊为原发性肝癌与胆管癌的临床组织标记，ICESD测试失效分析，并通过荧光有效区分了癌与癌旁组织。
美国伊利诺伊大学(the University of Illinois)的科学家发明了一种微型LED，ICESD测试失效分析，其微小程度能够轻易穿过细小的针眼。经实验证明，这一微型 LED 能够通过无线操作，有效进行深度脑部刺激，对神经系统疾病，例如运动障碍等，有一定的疗效。在实验中，研究人员将一根 LED 探针放入老鼠大脑，接着，通过使用光脉冲对老鼠的一部分脑奖赏通路的神经元进行刺激。老鼠在接受了这一 LED 脉冲刺激后，便会花更多时间在 Y 形迷宫里， 就好像它们懂得会在迷宫里得到食物奖励一样。
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